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JEM-2100F场发射透射电子显微镜
 
发布时间:2017-10-25 发布者: 字体<    >

仪器型号:JEM-2100F

生产厂家:日本电子株式会社 

购置时间:2012年12月

联系人:刘叶群

主要技术指标:

  1. 加速电压:200kV,稳定性≤1×10-6/min 

  2. 电子枪:ZrO/W(100),亮度>4*108A/(cm2·sr),真空度10-8Pa量级; 

  3. 束斑尺寸:TEM模式2.0nm-5.0nmEDS/NBD/CBD模式0.5nm-2.4nmSTEM模式0.2nm-1.5nm 

  4. 物镜:球差系数0.5mm,色差系数1.1mm 

  5. 分辨率:点分辨率0.19nm,线分辨率0.10nmSTEM分辨率0.20nm 

  6. 能谱仪:接收角0.13sr,谱线分辨率127eV 

  7. 样品移动范围:X/Y方向平移范围±1.0mmZ方向平移范围±0.1mmX/Y方向倾转角度范围±25º 

主要用途:

  该设备包含有TEM﹑HRTEM、STEM、EDS﹑SAED工作模式

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