
仪器型号:JEM-2100F
生产厂家:日本电子株式会社
购置时间:2012年12月
联系人:刘叶群
主要技术指标:
1. 加速电压:200kV,稳定性≤1×10-6/min;
2. 电子枪:ZrO/W(100),亮度>4*108A/(cm2·sr),真空度10-8Pa量级;
3. 束斑尺寸:TEM模式2.0nm-5.0nm,EDS/NBD/CBD模式0.5nm-2.4nm,STEM模式0.2nm-1.5nm;
4. 物镜:球差系数0.5mm,色差系数1.1mm;
5. 分辨率:点分辨率0.19nm,线分辨率0.10nm,STEM分辨率0.20nm;
6. 能谱仪:接收角0.13sr,谱线分辨率127eV;
7. 样品移动范围:X/Y方向平移范围±1.0mm,Z方向平移范围±0.1mm,X/Y方向倾转角度范围±25º;
主要用途:
该设备包含有TEM﹑HRTEM、STEM、EDS﹑SAED工作模式