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透射电子显微镜收费标准(表四)
 
发布时间:2019-05-09 发布者: 字体<    >

仪器型号

JEM-2100F

仪器主管

刘叶群

检测项目

计费标准

备注

形貌像/高分辨像

800/机时

 

STEM

1100/机时

 

能谱分析

点扫

120/

形貌像/高分辨像基础上另加

线扫/面扫

160/

 

仪器型号

FEI-TF20

仪器主管

陈帅

检测项目

计费标准

备注

形貌像/高分辨像

700/机时

 

STEM

1100/机时

 

能谱分析

点扫

120/

形貌像/高分辨像基础上另加

线扫/面扫

160/

 

仪器型号

JEM-2010

仪器主管

徐勤超

检测项目

计费标准

备注

形貌像/高分辨像

500/机时

 

能谱分析(点扫)

120/

形貌像/高分辨像基础上另加

 

透射电镜样品制备

项目名称

计费标准

备注

微栅/炭膜

30/

 

非磁性纳米粉末制样

50/

含微栅/炭膜

磁性纳米粉末制样

100/

含微栅/炭膜

树脂包埋制样

200/

 

离子减薄制样

200/机时

 

另:1自主操作时:工作时间按基础机时*0.7计费,非工作时间按基础机时*0.5计费;

2请根据测试样品特点和测试要求合理选择透射电镜型号(建议如下)

透射

电镜型号

特点

分辨率

功能

辐照

损伤

价格

机时

宽松程度

JEM-2010

0.23nm

线0.14nm

形貌

高分辨

衍射

能谱点扫

宽松

JEM-2100F

0.19nm

线0.10nm

STEM0.20nm

形貌

高分辨

衍射

能谱点扫

能谱线扫

能谱面扫

STEM

紧张

FEITF20

0.23nm

线0.10nm

STEM0.19nm

形貌

高分辨

衍射

能谱点扫

能谱线扫

能谱面扫

STEM

较高

较宽松

透射电镜型号选择说明

1)仅需拍形貌像、能谱点扫、晶面间距大于0.23nm的高分辨像时,优先选择JEM-2010;

2)电子束辐照不稳定的样品,比如分子筛,优先选择JEM-2010

3)需拍摄STEM/能谱线扫/面扫时,优先选择TF20,其次选择JEM-2100F

4)主要拍摄晶面间距低于0.23nm的高分辨像,或块体金属样品物相分析时,优先选择JEM-2100F

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