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JEM-2010高分辨透射电子显微镜
 
发布时间:2017-10-25 发布者: 字体<    >

仪器型号:JEM-2010

生产厂家:日本电子株式会社

购置时间:2004年3月

联系人:徐勤超

主要技术指标:

   分辨率:点分辨率≤0.23nm,线分辨率=0.14nm

   加速电压:80-200kV

   电子枪:LaB6晶体

   能谱仪:Link-Inca超薄窗口能谱仪

   放大倍率:50-150万倍

   加速电压稳定性:≤2ppm

   物镜电流稳定性:≤1ppm

   物镜色差系数:≤1.4mm   

   物镜球差系数:≤1.0mm

   最小束斑尺寸:TEM mode: 优于20nm  

  EDS/NBD/CBD mode: 优于1.0nm

主要功能:

   该设备包含有TEM﹑EDS﹑NBD﹑CBD工作模式,可观察材料的质厚衬度像,衍射衬度像和高分辨电子显微像;可获得不同取向的电子衍射花样;可进行微区成分分析。

主要用途:

   样品形貌观察、纳米尺度的结构与成分分析、高分辨图像观察、电子衍射结构分析、材料微结构观察与分析。

 
 

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