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测试收费调整说明
 
发布时间:2019-05-09 发布者: 字体<    >

尊敬的各用户:

    每年度公共技术服务中心综合所内外各用户的意见和建议,以及所获得的财政支持和仪器故障情况等,进行测试项目和单价的调整。本年度将集中下调场发射透射电子显微镜(TEM)、X射线粉末衍射仪(XRD)、X射线光电子能谱仪(XPS)的测试项目和单价(具体如下): 

 

  一、调整透射电镜测试项目及单价的说明 

仪器型号 

JEM-2100F 

仪器主管 

刘叶群 

检测项目 

计费标准 

备注 

形貌像/高分辨像 

800/机时 

 

STEM 

1100/机时 

  

能谱分析 

点扫 

120/ 

形貌像/高分辨像基础上另加 

 

 线扫/面扫

 160元/样

 形貌像/高分辨像基础上另加

    

仪器型号 

FEI-TF20 

仪器主管 

陈帅 

检测项目 

计费标准 

备注 

形貌像/高分辨像 

700/机时 

 

STEM 

1100/机时 

  

能谱分析 

点扫 

120/ 

形貌像/高分辨像基础上另加 

 

线扫/面扫

 160/ 

 形貌像/高分辨像基础上另加

    

仪器型号 

JEM-2010 

仪器主管 

徐勤超 

检测项目 

计费标准 

备注 

形貌像/高分辨像 

500/机时 

 

能谱分析(点扫) 

120/ 

形貌像/高分辨像基础上另加 

    

透射电镜样品制备 

项目名称 

计费标准 

备注 

微栅/炭膜 

30/ 

  

非磁性纳米粉末制样 

50/ 

含微栅/炭膜 

磁性纳米粉末制样 

100/ 

含微栅/炭膜 

树脂包埋制样 

200/ 

  

离子减薄制样 

200/机时 

  

  另:1自主操作时:工作时间按基础机时*0.7计费,非工作时间按基础机时*0.5计费; 

  2请根据测试样品特点和测试要求合理选择透射电镜型号(建议如下) 

透射电镜 

特点 

  型号

分辨率  

  

功能  

  辐照 

  损伤  

价格

机时 

宽松程度 

 

  JEM-2010 

 

  0.23nm 

  线0.14nm 

 

  形貌 

  高分辨 

  衍射 

  能谱点扫 

 

 

 宽松

JEM-2100F 

0.19nm 

线0.10nm 

STEM0.20nm 

形貌 

高分辨 

衍射 

能谱点扫 

能谱线扫 

能谱面扫 

STEM 

 

 

紧张 

FEITF20 

0.23nm 

线0.10nm 

STEM0.19nm 

形貌 

高分辨 

衍射 

能谱点扫 

能谱线扫 

能谱面扫 

STEM 

 

较高 

较宽松 

透射电镜型号选择说明: 

1)仅需拍形貌像、能谱点扫、晶面间距大于0.23nm的高分辨像时,优先选择JEM-2010 

2)电子束辐照不稳定的样品,比如分子筛,优先选择JEM-2010 

3)需拍摄STEM/能谱线扫/面扫时,优先选择TF20,其次选择JEM-2100F 

4)主要拍摄晶面间距低于0.23nm的高分辨像,或块体金属样品物相分析时,优先选择JEM-2100F 

    

  二、下调X射线粉末衍射仪测试项目及单价的说明 

检测项目 

计费标准 

 备注

数据处理 

500/ 

 

广角检测时,单个样品连续扫描时间 

小于等于30分钟 

 120/样,自主操作时80/

 

 

大于30分钟 

 200/样,自主操作时160/

 

小角(0.5-10° 

  

 150/样,自主操作时120/

 

    

  三、调整X射线光电子能谱仪测试项目及单价的说明 

检测项目 

计费标准及条件 

XPS采谱 

300/样(全谱 +3个元素窄谱,每多1个窄谱加100元,每个窄谱参考20 ev范围,扫描次数10 

XPS俄歇谱 

240/ 

XPS成像 

400/ 

XPS价带谱 

320/ 

角分辨XPS 

400/样,每个角度按一个样计 

Ar离子刻蚀表面清洁 

400/分钟/ 

Ar离子刻蚀深度剖析 

1000/分钟/(全谱 +3个窄谱,每多1个窄谱加150元) 

原位XPS 

2800/样(4个元素窄谱,每多1个窄谱加300元,每个窄谱参考20 ev范围,扫描次数10 

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